SPECTROLAB S 直讀光譜儀

    40多年來，SPECTRO全心投入開發出的發射光譜儀。斯派克公司引入CMOS探測器技術，改變了電弧/火花分析技術的走向及未來。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，低元素檢測限，同時也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性。 SPECTROLAB S 擁有一個基於CMOS的探測器的記錄係統，該係統非常適合於金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了快速、高度準確、異常靈活的技術選擇。 樣品的分析速度是儀器的重要標誌，SPECTROLAB S的推出滿足了金屬分析市場對速度的需求。例如：當檢測低合金鋼時，它可以在20秒或更短的時間內提供高準確度的測量值！ 從技術指標和實際使用效果看，SPECTROLAB S均是適合金屬冶煉廠的測試需求。對於金屬再加工生產商、汽車製造商、以及成品和半成品、電子產品、半導體等製造商來說，可以給出的解決方案同樣好。   創新點 1、雙光室，確保所有分析譜線都獲得很高分辨率。 SPECTROLAB S 配備兩套完整的專用光學係統。一個光室準確測量波長從120到240納米（nm）;另一個光室，波長範圍從210到800納米（nm）。 兩個光室都采用CMOS檢測器，具備恒溫裝置和壓力補償功能。 2、等離子發生器數字光源和點火板可靠的新型高能LDMOS等離子發生器光源，為SPECTROLAB S 輸出高穩定的火花放電，頻率高達1000 Hz，隻需要很短的時間即可完成測試，例如分析低合金鋼小於 20 秒。該係統還允許特定應用的火花參數設置，以優化分析性能。 3、氬氣控製係統 SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據分析程序設置氬氣流量。節約了氬氣消耗。氬氣閥體直接耦合到火花台，無需管道連接，避免漏氣。 4、火花台清理間隔大大延長 堅固的陶瓷內芯避免積塵粘附。流暢的氣路設計確保了很少的粉塵殘留（使得清理間隔時間延長了8倍）；對於大樣品量輸出的全自動光譜儀係統尤為重要。 5、快速讀出係統 斯派克的GigE創新讀出係統確保海量數據的快速處理，從而支持優越的儀器性能表現。實現了獨特的全光譜範圍譜圖記錄。 6、低檢出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術，在關鍵元素的檢測限方麵，超越光電倍增管技術的性能。通過配置參比通道，工作曲線可以獲得很好優化，可以快速定量分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。 7、元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍。 8、單一標樣實現整個係統的標準化, 此項每天可節省30分鍾工作時間。